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    PRODUCT

    IM3523


    應用于生產線和自動化測試領域的選擇
           ● 基本精度±.5,測量(DC,4Hz~2kHz,5mV~5V,1μA~5mA)
           ● 在比如C-D和ESR這樣的混合測量條件下,可以以往產品的速度不間斷測試。
           ● 內置比較器和BIN功能
           ● 2ms的測試時間

    LCR測試儀IM3523測量方法:連續測量不同條件
           在電容的測量條件中希望以12Hz測量C-D。希望以1kHz測量ESR。這時,使用1臺告訴連續測量不同條件。

    LCR測試儀IM3523測量方法:順暢的進行生產線的設置改的面板讀取功能
           為了使用1臺LCR測試儀測量多種產品,要求高效率的改設置。
           IM3523的面板保存功能,多保存6組測量條件,還能保存128個開路/短路補償和線長補償等的補償值。使用面板功能讀取所保存的測量條件。除了手動讀取以外,可以使用外部控制端口控制面板編號的讀取,因此能縮短構筑自動化檢查產線的時間。
     
    可靠的產線檢查:接觸檢查功能
           檢查4端子測量時樣品間的接觸不良。
           測量LPOT?LCUR間和HPOT?HCUR間的接觸電阻,如果在所設置的閾值以上時則顯示錯誤。

    技術參數
    測量模式 LCR,連續測試
    測量參數 Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC電阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q
    測量量程 100mΩ~100MΩ,10個量程(所有參數根據Z定義)
    可顯示量程 Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp:
    ± (0.000000 [單位]* ~9.99999G [單位])(*為最高分辯率時的顯示位數)
     只有 Z和Y顯示真有效值
    θ: ± (0.000°~999.999°), D: ± (0.00000~9.99999)
    Q: ± (0.00~99999.9), Δ%: ± (0.0000%~999.999%)
    基本精度 Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
    測量頻率 40Hz ~200kHz (1mHz ~10Hz)
    測量信號電平 正常模式
    V模式,CV模式: 5mV~5Vrms,1mVrms
    CC模式: 10μA~50mArms,10μArms
    輸出阻抗 正常模式:100Ω
    顯示 單色LCD
    測量時間 2ms(1kHz,FAST,代表值)
    功能 比較器,分類測量(BIN功能),面板讀取/保存、存儲功能
    接口 EXT I/O(處理器),USB通信(高速)
    選件:RS-232C,GP-IB,LAN任選一
    電源 100~240V AC,50/60Hz,MAX50VA
    尺寸及重量 260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg
    附件 電源線×1,使用說明書×1,CD-R(包括PC指令和樣本軟件)×1


    4端子探頭L2000
    DC~8MHz,1m長

    4端子開爾文夾9140-10
    DC~200kH,50 Ω,1 m長

    鑷形探頭L2001
    線長73cm,DC~8MHz,50Ω,前端電極間隔:0.3~6mm(IM9901:JIS尺寸1608~5750)(IM9902:JIS尺寸0603~5750)

    測試治具9261-10
    線長1m,DC~5MHz,特性阻抗50Ω,可測端口直徑:0.3~1.5mm

    測試治具9262
    DC~8 MHz, 直接連接型

    SMD測試治具9263
    直接連接型, DC~5 MHz 測試尺寸: 1mm~10.0mm

    SMD測試治具9677
    用于側面有電極的SMD DC~120MHz,測試樣品 尺寸:3.5mm±0.5mm

    SMD測試治具9699
    用于底部有電極的SMD DC~120MHz,測試樣品 尺寸:寬1.0~4.0mm,高1.5mm以下


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